模电——PN结及其特性2
PN结特性
PN结的单向导电性
- PN结加正向电压
外加电源的正极接到PN结的P端,负极接到PN结的N端。此时外加电场和内电场方向相反,使得扩散作用加强,漂移运动减弱,扩散电流大于漂移电流,PN结内的电流主要由扩散电流决定(正向电流),空间电荷区数目减少,空间电荷区变窄,内电场减弱。正偏的PN结表现为一个很小的电阻。
- PN结外加反向电压
外加电源的正极接到PN结的N端,负极接到PN结的P端。此时外加电场和内电场方向相同,扩散作用减弱,漂移运动加强,扩散电流低于漂移电流,PN结内的电流主要由少子的漂移电流决定(反向电流),空间电荷数目增多,空间电荷区变宽,内电场加强。由于少子是由本征激发产生的,浓度较小,因此PN结反向电流远小于正向电流,在一定温度下,少子的浓度基本不变,PN结反向电流几乎与外加反向电压无关,又称反向饱和电流Is,与温度有关。反偏的PN结基本上是截止的,表现为很大的电阻
由此可见,PN结具有单向导电性。外加正向电压时,电阻很小,正向电流是多子的扩散电流,数值很大,PN结导通;外加反向电压时,电阻很大,反向电流是少子的漂移电流,数值很小,PN结几乎截止。
PN结的伏安特性
PN结外加电压U和流过PN结的电流I之间的关系曲线
U的参考方向为P区正,N区负,I的参考方向为P区指向N区,Is在数值上等于反向饱和电流
k:玻尔兹曼常数 T热力学温度 q电子电荷量。
- 正向特性
U>0,在U大于一定数值后,PN结的正向电流I随正向电压U按指数变化。 - 反向特性
U<0,反向电压达到一定值后,PN结只流过很小的反向饱和电流,反向电流与反向电压的大小基本无关。
Is的数值取决于平衡状态下的少子数量,当温度升高时,半导体中本征激发增强,少子数量增多,故反向饱和电流增多,且温度升高,正向压降减小。 - 击穿特性
当加到PN结上的反向电压超过一定数值后,反向电流急剧增多,这种现象称为PN结的反向击穿。
齐纳击穿:在掺杂浓度较高的情况下,空间电荷区很薄,不大的反向电压就可以在耗尽区形成很强的电场,强电场作用下,可以把电子从共价键中拉出来形成大量的电子空穴对,使得反向电流急剧增大。
雪崩击穿:在掺杂浓度较低的情况下,随着PN结反向电压的增大,空间电荷区的电场增强,使得漂移过空间电荷区的少数载流子获得足够大的能量,他们把共价键中的价电子撞出来,产生新的电子空穴对,形成连锁反应,造成载流子倍增,反向电流加大。
只要PN结不因电流过大导致过热而损坏,当外加反向电压降低于击穿电压时,PN结的性能可以恢复,这种击穿叫电击穿,是可逆的。
当反向电流过大,消耗在PN结上的功率就越大,引起PN结温度过大,导致PN结损坏,这种击穿叫做热击穿,热击穿是不可逆的。
PN结的电容效应
势垒电容:与PN结的截面积呈正比,与空间电荷区的宽度呈反比
当PN结外加电压的极性和大小发生变化时,空间电荷区里存储的空间电荷量随之变化,空间电荷区的宽度也随之变化,这种和电容的充放电过程相似,PN结的这种效应称为:势垒电容。扩散电容:与PN结的正向电流近似呈正比
当PN结外加正向电压时,N区的多子电子扩散到P区后称为P区的非平衡少子。他们逐渐和P区的空穴复合,在P区形成浓度梯度,靠近空间电荷区交界面的地方浓度高,远离交界面的地方浓度低,N区也同样,形成了浓度梯度。
当所加正向电压增大时,浓度分布曲线上移,当正向电压减小时,浓度分布曲线下移,扩散区内电荷的积累和释放过程与电容充放电过程相似,这种效应称为扩散电容。小结:只有在高频情况下才考虑结电容的作用,当正向偏置时,扩散电容起主要作用;当反向偏置时,势垒电容起主要作用。
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