数字IC手撕代码-边沿检测（上升沿、下降沿、双边沿）
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目录
边沿检测
原理
代码
testbench
上升边沿 边沿检测波形
下降边沿 边沿检测波形
双边沿 边沿检测波形
边沿检测
在使用FIFO进行数据读写的时候，我们会用到边沿检测，比如当FIFO内的数据被读空了，这样 empty 信号就会从0→1，产生一个上升沿，当这个上升沿到来的时候代表FIFO内孔，我们就可以对FIFO进行一个写操作（把写使能拉高，往FIFO写数据），所以边沿检测是十分常用的东西，下面我们来讲讲边沿检测的原理、代码以及对应仿真。
原理
比如我们要检测信号 signal 的上升沿，我们使用两个寄存器，级联记录 signal 的值，这样由于寄存器延迟一拍的特性，第二个寄存器永远会延迟第一个寄存器。
当 signal 上升沿到来时，会有：第一个寄存器检测为高，第二个寄存器检测为低。
这样，我们只要把第二个寄存器取反，然后和第一个寄存器做与运算，这样当计算的数值为 1 时，就检测到了上升边沿。
代码
module edge_det(input clk ,input rstn ,input signal ,output signal_edge
);reg reg1,reg2;always @(posedge clk or negedge rstn)beginif(!rstn)beginreg1 <= 1'b0;reg2 <= 1'b0;endelse beginreg1 <= signal;reg2 <= reg1;end
endassign signal_edge = (~reg2) & reg1;endmoduletestbench
module edge_det_tb();reg clk,rstn;
reg signal;wire signal_edge;always #10 clk = ~clk;initial beginclk <= 1'b0;rstn <= 1'b0;signal <= 1'b0;#50rstn <= 1'b1;#100signal <= 1'b1;
end edge_det u_edge_det (.clk (clk) ,.rstn (rstn) ,.signal (signal) ,.signal_edge (signal_edge));endmodule上升边沿 边沿检测波形
从图中我们可以看到，跟我们预料的一样，当上升沿到来的时候，reg1和 reg2 信号错一拍，这样利用这个特性，让signal_edge = ~reg2 & reg1 就能检测到上升边沿。
检测下降沿也是一个道理，代码完全一致，就是把最后边沿检测信号改为：
assign signal_edge = ~reg1 & reg2；
下降边沿 边沿检测波形
双边沿 边沿检测波形
双边沿检测，就是上升沿和下降沿，检测信号都要输出一次高电平。这我们可以用异或实现，同样是只需要在上升沿检测的代码里改最后一条赋值语句即可，改为：
assign signal_edge = reg1 ^reg2 ；
结果和我们设计的一致。
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