在这之前作者一直认为silvaco是一个像是其他的编辑器一样根据代码写东西的编译器,但其实不是,我的思想被之前用过的传统编译器所束缚,silvaco其实是一个交互式的软件,因此我们不用特意进行语言的记忆与理解,当然这些都是我在进行了工艺仿真之后才得出的结论,由于工艺仿真更加贴近实际的器件,因此以后大概率使用工艺仿真。
这边文章比较长,但我个人认为讲的还是比较详细,新手同学可以看下,同时欢迎大家交流。
我们还是先来看代码,但是不同的是这次会介绍怎么进行交互操作,个人认为这才是silvaco的正确使用方式。

go athena
#
line x loc=0.00 spac=0.05
line x loc=0.1 spac=0.02
line x loc=0.35 spac=0.01
line x loc=0.6 spac=0.1
#
line y loc=0.00 spac=0.002
line y loc=10 spac=1init silicon c.boron=1.0e17 orientation=100 two.d# sacrificial "cleaning" oxide
diffus time=20 minutes temp=1000 dryo2 # vt adjust implant
implant boron dose=1.0e11 energy=30 tilt=0 rotation=0 crystal strip oxide
# gate oxide grown here
diffus time=10 minutes temp=945 dryo2 deposit polysilicon thick=0.2 divisions=10 etch polysilicon left p1.x=0.35 diffus time=3 minutes temp=900 weto2 implant phosphor dose=2.0e14 energy=11 tilt=0 rotation=0 crystal deposit oxide thick=0.12 divisions=8 etch oxide dry thick=0.12 implant arsenic dose=4.0e15 energy=28 tilt=0 rotation=0 crystal diffus time=1 minutes temp=900 nitro # pattern s/d contact metal
etch oxide left p1.x=0.1 etch oxide start x=0.357 y=-0.15
etch cont x=0.60 y=-0.15
etch cont x=0.60 y=-0.30
etch done x=0.357 y=-0.30 deposit aluminum thick=0.1 divisions=20 etch aluminum start x=0.35 y=0.10
etch cont x=0.10 y=0.10
etch cont x=0.10 y=-0.40
etch done x=0.35 y=-0.40 structure mirror rightelectrode name=gate x=0.50 y=-0.20
electrode name=source x=0.05 y=0.00
electrode name=drain x=1.15 y=0.00
electrode name=substrate backside structure outfile=nMOS_athena.str
quit

首先,我们先捋一下怎么进行工艺仿真,也就是说工艺仿真的几个主要部分。
分别是:
1.Initial geometry
2.Save and load
3.Process steps:
deposition
ion implantation
etching
diffusion
photo process
epitaxial
4.Electrode
electrode define
5.result analysis
extract
tonyplot
以上就是在进行工艺仿真时需要进行的几个步骤,工艺仿真时,对于MOS这种对称的器件,我们一般只仿真一半,然后进行镜像就可以了。当然为了让工艺仿真更加的直观,我们可以使用silvaco的一个特殊的功能来看每一个步骤下的器件是什么样子的。具体操作是在edit->preferences->history settings->length将这个值调成最大的999.

这样我们就可以保证每一步都可以看到器件的情况。
接下来的操作基本都是在一下的界面进行选择的

那么开始定义网格,我们选中


之后就会出现这个界面,在这我们进行网格的描述

可以看到我们所写的语句是上面比较密下面比较稀疏的。写进去之后:

然后进行初始材料的定义

我们选择使用硼进行掺杂,掺杂浓度为1e17,并且选择二维掺杂模型

然后我们对这一段程序设置断点开始仿真,看下会出现什么

此时整个材料为以下整个情况

之后就是将整个硅片放到1000℃的干氧中20分钟,这一步我认为是与其让硅在自然环境下进行氧化,不如直接放到氧气环境中,这样可以将氧化层生长的比较均匀有利于之后的去除氧化层。
先设置时间和温度:


然后选择干氧:

这时候器件就变成下图所示的样子:

可以看到有明显的一层氧化层,而且在Y轴的0下面还有一些硅片被占用。
然后进行硼的离子注入,这一步的目的是降低器件表面处的掺杂浓度,这样可以降低器件的阈值电压:

使用硼的浓度为1e11/cm2,使用的离子的能量为30Kev,注入离子束与晶圆法线的角度为0,注入离子束和仿真面(器件剖面)的角度为0,这个语句的意思就是垂直打进去。
这时界面处的语句为:

器件此时的情况为:

与上一个图片相比看起来没有什么区别,但是当我们对掺杂浓度进行作图,我们可以明显的看出区别:

根据图像我们可以看到,最右边的表面掺杂浓度明显比前面两个的表面掺杂浓度低一些,因此阈值电压更低,更容易形成反型层。
这时,我们降低掺杂浓度的目的已经达到了,且氧化层有一些掺杂,而我们在制作MOS的时候不希望氧化层有掺杂,所以将氧化层去掉
这里我们使用的语句是:

strip oxide

根据silvaco的用户手册,strip 的作用是将某种材料去掉。
然后我们再长一层二氧化硅。



我们还是使用干氧,但是这时通氧时间为10分钟,温度为945℃。
此时器件为:

左边为没有氧化层,右边为有氧化层
然后开始淀积多晶硅:


将多晶硅的厚度设置为0.2微米,同时将格子数设置为10,这个10个格子的意思为对0.2微米的多晶硅进行横向分割,因此竖着的线是根据已经设置好的继承上去的。
因此可以看到格子为:

然后我们将x=0.35以左的多晶硅刻蚀掉:


我们继续看此时的器件情况:

之后我们将器件放到湿氧中进行氧化,时间3分钟,温度为900℃


此时器件为:

可以看到整个器件的表面都包围了一层氧化层
然后进行P型区的掺杂,我们将离子的浓度设置为2e14/cm2,离子的能量为11Kev垂直打向硅片。

此时我们可以看到器件为:

与之前相比多了一个P型掺杂区
我们再生长一层比较厚的氧化层将多晶硅保护起来


这时我们可以看到,整个器件的氧化层是比较厚的,并且多晶硅上也有氧化层

因此,我们将氧化层减少0.12微米,并且保持拐角处不变

对比可知:

下面对多晶硅进行掺杂来保证多晶硅和衬底有比较小的功函数差,同时改变其导电性,这里选择先使用砷进行掺杂,然后用氮气进行退火

这是可以看到,相比于之前,多晶硅的掺杂浓度变高

同时P型区的掺杂浓度也变高


但是多晶硅的内部掺杂浓度和衬底处的掺杂浓度差距仍比较大,因此,用氮气进行退火


此时,我们可以看到浓度曲线为:

然后刻蚀掉一些氧化层,空出的位置用来生长电极

需要注意的是,在刻蚀任意形状的时候,点必须按照顺时针或者按照逆时针



然后沉积一层铝电极



刻蚀掉多余部分的铝电极


使器件镜像

structure mirror right

给电极起名,并设置输出文件


electrode name=gate x=0.50 y=-0.20
electrode name=source x=0.05 y=0.00
electrode name=drain x=1.15 y=0.00
electrode name=substrate backside
structure outfile=nMOS_athena.str

最后的结果为

我们将器件改为真实的比例

以上就是工艺仿真的nMOS

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