回顾作业

思考如下的问题：
在设计里面还有别的cell，当然主流仍然是MUX-D。
A、双端口扫描单元：为了把扫描时钟与正常时钟、扫描数据与正常触发器数据输入数据区分开，扫描触发器采用双（数据）双时钟触发器，有两个数据端口D和SI、两个时钟clk1和clk2，clk1和clk2时钟信号到来后SI端口的信号被捕获。
B、电平敏感扫描设计（Level-sensitive scan design, LSSD）:采用双锁存设计，对瞬态特性，如上升沿、下降沿都不铭感，电路结构中包括两个相互链接的电平敏感锁存器、信号有效数据输入D、系统时钟CK、串行扫描输入SI和两个互不重复的时钟clk1和clk2、串行扫描输出SO。测试中L1(主)和L2（从)结构，正常function状态时只有L2起作用，作用如同触发器。

对于问题2：
如果当你进行capture时候，就可能会改变reg/Q上面的值，相当于PPI发生了变化，与PI共同作用，会导致PO的值改变。所以，此时PO上面的值不是PI+PPI的值，而是PI+caputure后PPI上的值的作用结果。一般而言我们是希望前面一种，如果采用后面一种方式，工具会多了一个新的计算，相当于用新的PPI+PI运算结果。
如下图所示，对于measure PO, 如果发生在capture之后，由于capture这个动作会冲掉reg上面的值，导致产生新的PPI。

scan.tcl的脚本

#configure library
set search_path "$search_path ./netlist ./lib"
set target_library {./lib/typical.db}
set link_library {* ./lib/typical.db}#read and link the design
read_verilog -netlist ./netlist/top.v
current_design top link
link
#configure DFT
set_scan_configuration -chain_count 1
set_dft_signal -type Scanclock -port clk -view existing_dft -timing {45 55}
set_dft_signal -type ScanDataOut -view spec -port outa#preview and inset DFT
create_test_protocol
dft_drc
preview_dft
inset_dft
dft_drc#write out the information
report scan_path -view existing_dft -chain all
write -format verilog -hierachy -output netlist/top._scan.v
write_test_protocol -output generated/scan.spf

如何分析SPF文件

header是文件的基本信息
signals代表我这个芯片有哪些port。
signalGroup就是对信号的分类。
_si包含了信号test_in，作用是ScanIn
_so包含了信号outa，作用是ScanOut
_clk包含了信号clk。
我们知道IO有input output 和bid 所以这边spf文件里面还给出了以下的分类。
all_inputs
all_puts
所有的ports
_pi
_po
这些分组会简化下面的书写过程。
接着是Scan Structure的部分，描述了我现在scan这个这个structure的基本信息。
接下来就是timing的部分了，最关键的部分，比如我们之前谈到scan shift, force pi, measure po,shif out,以及shift out的比值的点在哪里，就包含在其中timing的信息中。
period就是测试时钟周期是100ns

下面再看一下Procedures的描述

做scan时候的Flow脚本

rundftc.tcl

dc_shell-t -f scan.cmd | tee -i my.log

scan.cmd

#settings
source -echo -verbose dc_setup.tcl
#design
source -echo -verbose designReadIn.tcl
#Constraints
source -echo -verbose designConstrainIn.tcl
#scan
source -echo -verbose InsertScan.tcl#source -echo -verbose designRecompile.tcl#outputs
source -echo -verbose designOutput.tcl

dc_setup.tcl如下

designReadIn.tcl如下

。。。。。
这里不一一展示，以后再workshop中再看官方的脚本，总结出自己的一套flow

PPI的是什么的简称。如下图。

让工具autofix rst问题

如何看preview_dft

set_scan_element false

因为timing关系，不希望增加mux，不希望串scan等原因

Scan reorder

在PR之前是按照字母顺序进行串chain。在做了PR之后，考虑到布局布线的资源，可能就会调换scan cell的位置。但如果跨了clock domain换的话，就会出现问题，所以需要告诉工具只能在一个clock domain内换。所以，在做scan flow的时候有command可以产生-scandef的文件。
scan reorder就是要解决优化链接关系，节省布线的资源。

在解决DFTviolation的时候可以，通过autofix来修改，然后反馈给DD，这样，能从中学习到解决violation的方法。

scan compression

ATE设备按照2-10美分/s来收费。
测试时间主要花费在了shift上面，如果我的chain的条数增加，shift时间就变短了。
采用如下图所示的broadcast结构。

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