1. 一种电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：获取电容式触摸屏上各节点电容分别对应的采样信号；将所述采样信号转换成可处理的触摸数据后，根据预存的标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果。

2.如权利要求1所述的电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述采样信号是所述电容式触摸屏上的所述电容节点在受到外部触发后发出的相应电脉冲信号，和/或从所述电容式触摸屏的触摸屏驱动芯片中直接获取的、表征被触发电容节点所在位置的原始触摸位置数据，和/或从所述电容式触摸屏的触摸屏的驱动芯片中直接获取的、表征所有电容节点的所有原始数据。

3.如权利要求1所述的电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述标准值包括一最大值，所述根据预存的标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤具体为：判断所述触摸数据是否超过所述最大值，并将超过所述最大值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出。

4.如权利要求1所述的电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述标准值包括一最小值，所述根据预存的标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤具体为：判断所述触摸数据是否达到所述最小值，并将未达到所述最小值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出。

5.如权利要求1所述的电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述标准值包括一相邻偏差标准值，所述根据预存的标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤包括以下步骤：计算当前节点电容的触摸数据与各个相邻节点电容的触摸数据之间差值的绝对值，并将每一差值的绝对值除以所述当前节点电容的触摸数据，得到与所述相邻节点电容的数目相当的相邻偏差值；判断各个相邻偏差值是否超过所述相邻偏差标准值，并将超过所述相邻偏差标准值的相邻偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出。

6.如权利要求1所述的电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述标准值包括一整屏偏差标准值，所述根据预存的标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤包括以下步骤：计算全部节点电容的触摸数据的平均值，并将当前节点电容的触摸数据减去所述平均值后，将得到的数据的绝对值除以所述当前节点电容的触摸数据，得到所述当前节点电容对应的整屏偏差值；判断各个整屏偏差值是否超过所述整屏偏差标准值，并将超过所述整屏偏差标准值的整屏偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出。

7. 一种电容式触摸屏的测试系统，其特征在于，所述系统包括：存储模块，用于预存标准值；获取模块，用于获取电容式触摸屏上各节点电容分别对应的采样信号；以及分析模块，用于将所述获取模块获取的所述采样信号转换成可处理的触摸数据后，根据所述存储模块预存的所述标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果。

8.如权利要求7所述的电容式触摸屏的测试系统，其特征在于，所述存储模块预存的所述标准值包括最大值、最小值、相邻偏差标准值、整屏偏差标准值，所述分析模块包括：预处理模块，用于将所述获取模块获取的所述采样信号转换成可处理的触摸数据； 最大值分析模块，用于判断所述预处理模块转换得到的所述触摸数据是否超过所述最大值，并将超过所述最大值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出； 最小值分析模块，用于判断所述预处理模块转换得到的所述触摸数据是否达到所述最小值，并将未达到所述最小值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出； 相邻偏差分析模块，用于计算所述预处理模块转换得到的、当前节点电容的触摸数据与各个相邻节点电容的触摸数据之间差值的绝对值，并将每一差值的绝对值除以当前节点电容的触摸数据，得到与相邻节点电容数目相当的相邻偏差值，之后判断各个相邻偏差值是否超过所述相邻偏差标准值，并将超过所述相邻偏差标准值的相邻偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出；以及 整屏偏差分析模块，用于计算所述预处理模块转换得到的、全部节点电容的触摸数据的平均值，并将当前节点电容的触摸数据减去所述平均值后，将得到的数据的绝对值除以当前节点电容的触摸数据，得到当前节点电容对应的整屏偏差值，之后判断各个整屏偏差值是否超过所述整屏偏差标准值，并将超过所述整屏偏差标准值的整屏偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出。

9. 一种电子设备，包括电容式触摸屏，其特征在于，所述电子设备还包括一如权利要求7或8任一项所述的电容式触摸屏的测试系统。

10.如权利要求9所述的电子设备，其特征在于，所述电子设备是电容式触控设备，所述电子设备还包括： 所述电容式触摸屏的触摸屏驱动芯片；以及 显示屏，用于显示所述分析模块输出的所述分析结果。