AFM测试常见问题及解答(二)
1.样品导电性不好,需要喷金吗?
答:AFM对样品表面的导电性没有要求,可以测导电的和不导电的。
2. AFM可以分析材料的亲疏水性吗?如何判断?
答:可以分析,需要用液下模式。
3.AFM和MFM都可以出形貌图,这两种有什么区别?以哪个为准?
答:AFM出的图是形貌图,MFM出的图是抬起模式相图也就是磁畴分布图,在分析相图时需要对比形貌图,分析两者之间的差异从而得到磁分布的信息。
4.测量样品起伏度有极限值吗?
答:有极限值,最好1微米之内,5微米以内根据样品性质用轻敲模式扫描时降低扫描1速度可以实现,大于5微米的样品不建议使用AFM进行测试。
5. 样品尺寸较大,微米级的可以测吗?检测有必要吗?
答:样品尺寸横向大小微米级的可以使用AFM测试,根据你想得到的材料信息来判断有没有检测的必要,如果微米级起伏根据第4条回答来判断。
6.AFM力曲线中位移-力曲线和距离-力曲线如何转化?转化过程中需要注意哪些细节?
答:F-Z转换成F-D曲线可以在分析软件中修改,将display mode改为Force vs sep就可以直接转换。
7.样品是粉末,疏松度十分疏松,测量时,会不会因为粉末疏松,测不了啊?
答:一般粉末样品需要分散到硅片或云母表面测试。
8.测量时,探针会不会将表面形貌破坏啊?
答:样品较软时采用峰值力轻敲模式扫描,将力设置小一些就不会对表面形貌造成破坏。
9.磁学MFM测量探针的镀层是Co的话,Co易氧化,如何保存?
答:一般是Co-Cr的镀层,不会被氧化,没有特殊保存要求。
10.AFM扫描过程中,力曲线反应的是什么物理图像?
答:力曲线反应的是样品与探针之间的作用力。
11.MESP针最大磁场可以加到多大?
答:MESP的探针矫顽力在400Oe,测试的样品磁性较强时建议使用高矫顽力的探针或者低磁矩探针。
12.有镀层的针会不会更粗一些?
答:不会,一般探针针尖在2nm,镀层可以镀的厚度很薄,可以忽略。
13.AFM图上出现波纹状结构是什么原因呢?
答:AFM图上出现波纹考虑是激光干涉或机械振动,可以根据条纹的数量确定是高频还是低频噪声,激光干涉的话需要重新调节激光的位置,机械振动的话检查气浮台和真空吸附开关有没有打开。
14.电化学原子力显微镜是哪种?
答:将接触式的原子力显微镜用于电解质溶液研究电极的表面形貌,其力的作用原理与大气中的AFM相同。
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