一、什么是DFT

DFT全称可测试性技术（DesignFor Test），是一种专为测试的集成电路设计。这里的测试一般指两部分：一是为筛出好芯片（无物理缺陷）出货而进行的量产测试；二是为芯片回来后的调试提供一些测试手段。可测试性方法是指添加到被测电路上使得对被测电路的测试更容易、更快，并且在检测故障数量上效率更高的硬件方法。

二、DFT有哪些技术

DFT有三种基本测试手段：1.边界扫描测试（Boundry Scan Test）;2.扫描测试（Scan Test）；3.内建自测试（BIST，Build-In Self-Test），BIST又分为测试memory的MBIST，测试Special IP的Logic BIST，测试Analog IP的LoopbackBIST。除了以上3种基本测试手段外，还有一些特殊的电路设计专为硅后调试使用。

边界扫面测试的主要目标是被测电路的边界，而不是芯片内部或内核内部。扫描测试是通过插入可控可观测的扫面寄存器实现测试电路内部逻辑。内建自测试是预先在待测模块中加入回环自测试。

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