STC8单片机ADC采样注意事项

最近在做一个模块，使用宏晶公司的STC8单片机开发，模块主要使用了单片机的ADC采样功能，因为需要10个以上的通道，而且模块要经常震动，所以希望使用一种耐操一点的芯片， 于是我使用了STC8系列的单片机，有16路通道的ADC，采样精度是12位，可以比较好的满足我的要求。 一开始模块做的还不错，半年之后有一次要进行改进，在程序上我加大了单片机通道切换之间的时间，然而最后却出现了采样出错的现象。

因为我要轮询所有的ADC通道，出于设计方面，我采用了特别的采样顺序，采样出错的结果不知道是怎么回事，在改了程序之后便出现了问题， 我一直认为是程序的问题，搞到最后怀疑人生了，，感觉难道这又是STC的一个bug？

不过，最后我终于在网上找到了一个线索，并且尝试按照那个方法改了一下程序，ojbk了。 贴一下那个线索的原话：

如果输入信号内阻很大（超过1K就算大了，如果10K就很大了），ADC输入端对地接一个0.01~0.1uF的电容。
切换通道后，第一次转换值丢弃。

为什么会有这些要求？为什么外挂专门的ADC也一样的有这种要求？
对于没有输入缓冲的ADC（STC的ADC输入就是没有缓冲的），采样时ADC输入端通过一个电阻（r，通常是几K欧姆）给采样电容C充电（采样电容一般是10~30PF，STC的可以按30PF计算），假设信号源内阻为R0，则采样充电就是（(R0+r)*C），采样时间t一般是很短的，比如STC最快时采样就是几个时钟，时间很短。

贴一下我的ADC采集函数（更改之前的）：

/*** [ADCRead description]* @Author     叶鹏程* @DateTime   2019-08-01T20:24:46+0800* @discrption : ADC采样函数，*  * @param      n                        [要采样的通道]* @param      value_point              [采样值存放地址]*/
void ADCRead(uint8_t n,unsigned int  xdata *value_point){unsigned int adc_value = 0;ADC_SET_CHANEL(n);  //设置当前待转换的ADC通道ADC_START_ENABLE();while(ADC_STATE()); //等待转换ADC_FLAG_CLEAR();  adc_value = (int)ADC_RES << 8;                               //读取ADC结果adc_value |= (int)ADC_RESL;adc_value = adc_value>>4;*value_point = adc_value;
}

这是按照线索，更改之后的：

/*** [ADCRead description]* @Author     叶鹏程* @DateTime   2019-08-01T20:24:46+0800* @discrption : ADC采样函数，*  * @param      n                        [要采样的通道]* @param      value_point              [采样值存放地址]*/
void ADCRead(uint8_t n,unsigned int  xdata *value_point){unsigned int adc_value = 0;ADC_SET_CHANEL(n);  //设置当前待转换的ADC通道ADC_START_ENABLE();while(ADC_STATE()); //等待转换ADC_FLAG_CLEAR();  /* 这是清除了第一次转换的值，采用第二次采样，这样在切换通道时更加稳定*/ADC_START_ENABLE();while(ADC_STATE()); //等待转换ADC_FLAG_CLEAR();  adc_value = (int)ADC_RES << 8;                               //读取ADC结果adc_value |= (int)ADC_RESL;adc_value = adc_value>>4;*value_point = adc_value;
}

总结，这是ADC电路的问题， 以后一定要注意这些东西， 看来还是自己的知识没有学扎实。 加油！