LPDDR4的ZQ 校准
LPDDR4的ZQ pin, 用来外接一240Ω±1%上拉电阻至VDDQ。LPDDR4将其作为参考电阻,用来校准DRAM内部的240Ω电阻。因为芯片内部的240欧电阻是由CMOS构成,由于CMOS的天然特性,造成该电阻会随着PTV(制程,温度和电压)变化,因此必须对其进行校准。
在JESD209-4B LPDDR4标准中,提到ZQ校准有四个作用
1、输出上拉校准,即校准输出电压VOH PU-Cal (Pull-up Calibration VOH Point)
2、输入下拉驱动强度及接收终止电阻的校准 PDDS (Pull Down Drive Strength and Rx Termination)
DQ-ODT (DQ ODT Value)
CA-ODT (CA ODT Value)
下面会详细介绍DRAM的I/O的内部结构来说明为什么会有这样的作用。
1. DRAM DQ Pad内部的电阻网络结构
DQ是数据传输的双向PAD。
在读操作时,DRAM需要提供合适的输出驱动电压Voh,在LPDDR4中规定为VDDQ/2.5或VDDQ/3,(LPDDR4X规格为0.5*VDDQ或者0.6V*DDQ),也即440mV和367mV, 它是靠DQ Pad内的上拉电阻网络来实现的。
在写操作时,作为接受方,DRAM的DQ会连接一个下拉的ODT 终止电阻(RTT),来改善信号完整性。
在早期的DDR中,DQ的上拉电阻和下拉电阻是分离结构,从DDR3开始采用上拉和下拉合并的电阻网络来实现。
下图以DDR3中的上拉和下拉合并的电阻网络为例,讲解其实现方法及校准过程:
如上图所示,DQ Pad内部的电阻网络包含7个并联的上拉电阻,以及7个并联的下拉电阻。上拉连接VDDQ,下拉接地。每个电阻有多个CMOS生成(图中每个 240Ω pull up/down leg),且通过控制上部MOS管来和DQ导通或断开,每个在正常工作的时候应为240Ω。
在DQ作为输出时,断掉所有下拉电阻,只有上拉电阻和DQ连接,并且控制上拉电阻的导通个数,来控制输出Voh电压。
在DQ作为输入时,断掉所有上拉电阻,只有下拉电阻和DQ连接,从而构成ODT需要的下拉电阻。并且通过控制下拉电阻的导通个数,生成需要的不同电阻值的电阻。
上图的电路可以简化表示如下:
2. DRAM内部电阻校准方法
只有对DQ Pad内部的上下拉电阻网络中的每个电阻进行校准,才能满足高频下信号完整性需求,这就用到了连接在ZQ Pad 外部的240Ω±1%参考电阻。
校准的前提是,我们认为该外部参考电阻不会随着环境变化,在任何条件下都是标准的240Ω。
DRAM内部对每个240Ω电阻进行校准时都会共用该外部参考电阻,因此每个电阻是分开进行校准,在时间上不能重叠。
对每个上拉电阻进行校准时,其校准电路如下:
其中左侧方框为校准控制模块,内部包含ADC, 比较器,择多滤波器(majority filter)。图中VDDQ/2作为参考电压,有DRAM内部产生。图中最右侧为一个近似电阻(approximation register,是polyresistor), 比240Ω稍大。和该240Ω+电阻并联的有5个P Channel device(如原文所述),通过控制其导通个数,来使其最终等效电阻最终等于240Ω。
具体校准过程如下:
收到ZQ校准命令后,PUP会被驱动为低电平,使和VDDQ连接的PMOS开关打开
校准控制模块通过调整VOH[0:4], 来使不同的P Channel device导通
比较VPULL-UP和VDDQ/2的电压,当二者相等时,DQ上下两侧的电阻相等,均为240Ω,校准完成
记录下该电阻的VOH[0:4]的值
对每个上拉电阻进行校准,记录下每个电阻对应的VOH[0:4]值
下拉电阻校准过程类似,不多赘述。不同的是和240Ω+电阻并联的是N Channel device
3. LPDDR4
LPDDR4的DQ内部上下拉合并的电阻网络应与上文所述的DDR3结构类似,但具体上拉电阻和下拉电阻个数是不同的(其具体结构没找到资料),但根据标准中ODT电阻有6个可选的电阻值,可以猜测其下拉并联电阻有6个。ODT电阻如下表所示:
由上表可推测,240ohm恰巧是选择一个下拉电阻导通得到的,120ohm是选择2个下拉电阻导通得到的,其他依此类推。
LPDDR4标准规定DQ的输出高电平VOH只有两个,即VDDQ/2.5和VDDQ/3,分别是440mV和367mV。这两个值应该控制上拉电阻网络得到的。
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