EMC | 静电放电抗扰度试验与整改
概 述
静电放电是一种自然现象，当两种不同介电强度的材料互相摩擦时就会产生静电电荷，如果其中一种材料的静电电荷积累到一定程度，并与另外一个物体接触时，就会通过这个物体到大地的阻抗进行放电，当设备发生接触或者空气放电后，附着在设备内部电路板或者元器件的阻抗较小，所以二次放电的危害有可能比一次放电更大。静电放电及其影响是电子设备的一个主要干扰源。
静电放电多发生于人体接触半导体器件时，有可能导致半导体材料击穿，产生不可逆的损坏，静电放电及有此产生的电磁场变化可能危害电子设备的正常工作。
静电放电抗扰度试验模拟了以下两种情况：
1.设备操作人员直接触摸设备时对设备的放电和放电对设备的影响（直接放电）
2.设备操作人员在触摸附近设备时对所关心的设备的影响（间接放电）
接触放电
电路中150pF电容代表人体的储能电容，330Ω电阻代表人体的手握钥匙和其他金属工具时的人体电阻，标准认为用这种人体放电模型（包括电容容量和电阻值）来描述静电放电时足够严酷的。
1.直接放电：人手可以触摸到部位都要进行静电放电试验
2.间接放电：间接放电即对耦合板进行放电
空气放电
静电放电可能造成的后果：
1.直接放电可引起设备中半导体器件损坏，从而造成设备的永久性失效；
2.设备的误动作，这是由放电（可能是直接放电，也可能是间接放电）而引起的近场电磁场变化造成的；
不接地设备
关于不接地的设备或者设备中不接地的部件不能直接进行连续放电试验，如果下一次ESD脉冲施加之前不能将电荷释放，就有可能使EUT达到所施加电压的两倍，因此这样连续打几次之后EUT可能被不切实际的充电至很多电荷，最终以非常高的能量在绝缘体的击穿电压点上放电；因此为了保证两次静电放电试验之间电荷已经完全释放需要在EUT上加泄放电阻或者静置时间够长使电荷自然衰减；
整 改
静电放电抗扰度不通过整改主要从两方面
泄放：PCB布局时要留有良好的泄放路径，让从插件，外壳，按键等人体可以接触的地方受到的静电快速泄放掉，并且绕开敏感器件比如CPU的复位电路；
消除：所有对外的接口都要加ESD /TVS器件防护；
生命不息、学习不止，加油！
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