MT666数字程序测试
测试项:
1、OS
2、ICC
3、GT电压
4、PATTERN
5、GT电压
6、OS
DATA/GATE使用数字通道 T1/T2
问题1:os测试异常
在测试OS时,DATA/GATE=PEB_ALL,使用PEB_ALL测试两个OS
需要使用fisetting/FVSETTING以及TOTAL_AVG/还有TRIG
peb.ppmu.FISetting("OS_PEB",-200E-6,peb.ppmu.I_RNG_2MA,2,-2,2);
peb.ppmu.MVSetting("OS_PEB",1,peb.ppmu.TOTAL_AVG);
peb.ppmu.Trig();
util.GetMeasValue("OS_PEB",OS);
util.TestLog("OS_PEB",OS);
在量测GATE电压时,针对单独引脚不需要setting/AVG/trig
peb.ppmu.FI("GT",0,peb.ppmu.I_RNG_20UA,4,-2);
util.dlyms(2);
peb.ppmu.MV("GT",1);
util.GetMeasValue("GT",A);
util.TestLog("V_GATE1",A);
问题2:GT脚在跑pattern期间,电压不恒定为高或低
故而在写pattern时,不使用GT脚,仅仅读写PIN1-DATA脚;
问题3:GT脚最初测试电压不对
需先测静态电流,及给VDD一个2V的电压;
DATA需外接500R到3V,USB5V需外接1K到3V,条件需给到位;
问题4:回码无低电平
程序中compare时间太短
设置边沿比较时间
peb.SetTimingSetPinEdge("0","PEB_PIN",0,500,200,450,peb.DRV_NF,peb.CMP_EDGE);
周期为500ns,如果compare时间设置成350-450ns,则测试异常,设置200-450ns,测试ok
问题5:测试wait time时间,
21us±20%,使用38个500ns加上下两个XX去匹配wait time时间
问题6:读回码不稳定
如高电平是L(2us)H(8us),及L-4个周期 ,H-16个周期
针对高低电平,单独进行读取;如L-4个周期,先match100次L,如果match到则 RPT 2次L
保留一次的余量;H一样,先match 100次H,match到后, RPT 14次H,保留一次余量;
HEAD DT;
ST: RPT 2000 (1)TS0; RPT 27 (0);//起始码 RPT 9 (1);// RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 0000 RPT 4 (0); RPT 16 (1);//1 RPT 4 (0); RPT 16 (1);//1 RPT 4 (0); RPT 16 (1);//1 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 1110 RPT 27 (1);//wait RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 4 (0); RPT 16 (1);//1 //0000 0001RPT 27 (1);//wait RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 //0000 0000RPT 27 (1);//wait RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 4 (0); RPT 16 (1);//1 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 4 (0); RPT 16 (1);//1 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 RPT 14 (0); RPT 6 (1);//0 //0100 1000RPT 27 (1);//wait RPT 27 (0);//
// (X);
// (X);(X);
RPT 38 (H);(X);// (X);
// (X);MATCH 100 (L);//1 RPT 2 (L); MATCH 100 (H); RPT 14 (H); MATCH 100 (L);//0 RPT 14 (L); MATCH 100 (H); RPT 2 (H); MATCH 100 (L);//0 RPT 14 (L); MATCH 100 (H); RPT 2 (H); MATCH 100 (L);//0 RPT 14 (L); MATCH 100 (H); RPT 2 (H); MATCH 100 (L);//1 RPT 2 (L); MATCH 100 (H); RPT 14 (H); MATCH 100 (L);//1 RPT 2 (L); MATCH 100 (H); RPT 14 (H); MATCH 100 (L);//1 RPT 2 (L); MATCH 100 (H); RPT 14 (H); MATCH 100 (L);//0 RPT 14 (L); MATCH 100 (H); RPT 2 (H); RPT 25 (H);//wait MATCH 100 (L);//1 RPT 2 (L); MATCH 100 (H); RPT 14 (H); MATCH 100 (L);//1 RPT 2 (L); MATCH 100 (H); RPT 14 (H); MATCH 100 (L);//0 RPT 14 (L); MATCH 100 (H); RPT 2 (H); MATCH 100 (L);//0 RPT 14 (L); MATCH 100 (H); RPT 2 (H); MATCH 100 (L);//1 RPT 2 (L); MATCH 100 (H); RPT 14 (H); MATCH 100 (L);//0 RPT 14 (L); MATCH 100 (H); RPT 2 (H); MATCH 100 (L);//0 RPT 14 (L); MATCH 100 (H); RPT 2 (H); MATCH 100 (L);//1 RPT 2 (L); MATCH 100 (H); RPT 14 (H); SP: RPT 200 (X);
#include "stdafx.h"
#include "HX51_SOT23_6_MT666(MT666S-E75)_REVA_FT_userprog.h"bool BPASS[MAX_TESTING_SITE];
double TEMP[8]={0,0,0,0,0,0,0,0};
int site[8],set[8];
double A[8],B[8],C[8],D[8];void System_Init(void)
{}void System_Exit(void)
{}void Device_Init(void)
{}void Device_Eot(void)
{ovc.FV("OVC_ALL",0,10E-3,ovc.V_RNG_4V,ovc.I_RNG_10MA,false,2);qvc.FV("QVC_ALL",0,4,10e-3,qvc.V_RNG_4V,qvc.I_RNG_20m,qvc.DUTON,false,0,0);qvc.FV("QVC_ALL",0,4,10e-3,qvc.V_RNG_4V,qvc.I_RNG_20m,qvc.DUTOFF,false,0,0);tmu.SetUR("K_ALL",tmu.OFF,3); peb.SetDCLRelay("PEB_PIN",false);
}void Device_Eow(void)
{}void OS(void)
{ Device_Eot();PG_VALUE OS;peb.ppmu.FISetting("OS_PEB",-200E-6,peb.ppmu.I_RNG_2MA,2,-2,2);peb.ppmu.MVSetting("OS_PEB",1,peb.ppmu.TOTAL_AVG);peb.ppmu.Trig();util.GetMeasValue("OS_PEB",OS);util.TestLog("OS_PEB",OS);ovc.FI("VDD",-100E-6,2,ovc.V_RNG_2V,ovc.I_RNG_1MA,true,2);util.dlyms(2);ovc.MV("VDD",1);util.GetMeasValue("VDD",TEMP);util.TestLog("OS_VDD",TEMP);ovc.FI("US",-100E-6,2,ovc.V_RNG_2V,ovc.I_RNG_1MA,true,2);util.dlyms(2);ovc.MV("US",1);util.GetMeasValue("US",TEMP);util.TestLog("OS_US",TEMP);ovc.FI("PO",-100E-6,2,ovc.V_RNG_2V,ovc.I_RNG_1MA,true,2);util.dlyms(2);ovc.MV("PO",1);util.GetMeasValue("PO",TEMP);util.TestLog("OS_PO",TEMP);ovc.FV("OVC_ALL",0,1E-3,ovc.V_RNG_4V,ovc.I_RNG_10MA,false,0);
}void I_VDD(void)
{ ovc.FV("VDD",2,1e-3,ovc.V_RNG_4V,ovc.I_RNG_1MA,true,1);util.dlyms(2);ovc.MI("VDD",10);util.GetMeasValue("VDD",TEMP);for(int i=0;i<4;i++){TEMP[i]=TEMP[i]*1e6;}util.TestLog("I_VDD",TEMP);ovc.FV("VDD",2,1e-3,ovc.V_RNG_4V,ovc.I_RNG_1MA,false,1);}
void TEST(void)
{ tmu.SetUR("K2",tmu.ON,3);util.dlyms(2);ovc.FV("DT_A",3,10e-3,ovc.V_RNG_4V,ovc.I_RNG_10MA,true,1);util.dlyms(2);qvc.FV("US_3V",3,4,10e-3,qvc.V_RNG_4V,qvc.I_RNG_20m,qvc.DUTON,false,0,0);util.dlyms(2);peb.ppmu.FI("GT",0,peb.ppmu.I_RNG_20UA,4,-2);util.dlyms(2);peb.ppmu.MV("GT",1);util.GetMeasValue("GT",A);util.TestLog("V_GATE1",A);peb.SetPinLevel("PEB_PIN",3,0,1,0.6,0,0,0);peb.SetDCLRelay("PEB_PIN",true);peb.SetTimingSetPeriod("0",500);peb.SetPinMode("PEB_PIN",peb.IO_DRV_0,peb.IO_NF,peb.MASKFAIL_DISABLE);peb.SetTimingSetPinEdge("0","PEB_PIN",0,500,200,450,peb.DRV_NF,peb.CMP_EDGE);peb.SetTestPatternOption("DT2639_1.ST","DT2639_1.ST",1,false);peb.TestPattern("DT2639_1.ST","DT2639_1.SP",BPASS);util.FuncLog(true,BPASS);util.dlyms(5);peb.ppmu.FI("GT",0,peb.ppmu.I_RNG_2MA,4,-2);peb.ppmu.MV("GT",1);util.GetMeasValue("GT",A);util.TestLog("V_GATE2",A);Device_Eot();}void OS1(void)
{OS();
}
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