51单片机编译没错但proteus数码管仿真出现乱码的情况

在keil编写数码管动态显示的代码的时候，编译没有任何问题，但是在proteus中仿真共阴极数码管时（本人采用的是共阴极数码管，都一样的），出现数码管显示不全或乱码的现象。

我采用的是P0口，P0口接上拉电阻和两个74HC573锁存器。

分两点讲一下，第一个是数码管经管率的原因；在keil编写时代码采用的是先段选后位选的形式，导致数码管的经管率过低；关于经管率大家可以BD一下。代码如下：

void xs()
{uchar tem=0xfe;                    //位选信号的初值，低位对应数码管的左端for(xz=a;xz<z;xz++){ switch(xz)             //段选{case 1:P0=s2[h]; dd=1; dd=0; break;case 2:P0=s1[h1]; dd=1; dd=0; break;case 3:P0=s2[fen]; dd=1; dd=0; break;case 4:P0=s1[fen1]; dd=1; dd=0; break;case 5:P0=s2[miao]; dd=1; dd=0; break;case 6:P0=s2[miao1]; dd=1; dd=0; break;}P0=tem;wd=1;wd=0;      //位选delay(1);              //扫描间隔时间1mstem=_crol_(tem,1);     //循环左移一位}
}

仿真效果出现乱码现象，但是在单片机上运行的时候就不会任何问题，就很奇葩；下面是proteus仿真的效果图

第二种就是代码中的控制锁存器使能端的位（高电平开，低电平关），在开、关上与P0的读入存在竞争冒险（说白了就是使能端的开、关和锁存器读入P0的状态这一事件在时间先后上存在不确定关系）；常见代码如下：

void xs()
{uchar tem=0xfe;                    //位选信号的初值，低位对应数码管的左端for(xz=a;xz<z;xz++){ wd=1;P0=tem;wd=0;      //位选switch(xz)             //段选{case 1:dd=1;P0=s2[h];  dd=0; break;case 2:dd=1;P0=s1[h1];  dd=0; break;case 3:dd=1;P0=s2[fen];  dd=0; break;case 4:dd=1;P0=s1[fen1];  dd=0; break;case 5:dd=1;P0=s2[miao];  dd=0; break;case 6:dd=1;P0=s2[miao1];  dd=0; break;}delay(1);              //扫描间隔时间tem=_crol_(tem,1);     //循环左移一位}
}

上面的代码中wd为位选锁存器的使能端，dd为段选锁存器的使能端。流程：wd=1位选打开，P0口的初始状态为0xff此时被读入，然而下一步P0口被赋值0xfe，而后wd=0，锁存器关闭，但是此时无法保证在锁存器关闭之前锁存器读入了0xfe；同理dd=1段选打开，P0为0xfe这时段选的锁存器就被写入了0xfe，你再让P0=s2[h]（s2为一个共阴极0~9的数组），这时又到了竞争冒险的时候了，锁存器是先读入s2[h]还是先执行dd=0。仿真结果如下：

最后推荐写法如下：

void xs()
{uchar tem=0xfe;                    //位选信号的初值，低位对应数码管的左端for(xz=a;xz<z;xz++){ P0=tem;wd=1;wd=0;      //位选switch(xz)             //段选{case 1:P0=s2[h]; dd=1; dd=0; break;case 2:P0=s1[h1]; dd=1; dd=0; break;case 3:P0=s2[fen]; dd=1; dd=0; break;case 4:P0=s1[fen1]; dd=1; dd=0; break;case 5:P0=s2[miao]; dd=1; dd=0; break;case 6:P0=s2[miao1]; dd=1; dd=0; break;}delay(1);              //扫描间隔时间tem=_crol_(tem,1);     //循环左移一位}
}

仿真结果如下图

本人小白，学习ing........

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