AFM成像表面形貌和表面粗糙度

【摘要】科学指南针可为您提供原子力显微镜技术（AFM）服务，原子力显微镜现已广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、食品、医药研究和科研院所各种纳米相关学科的研究实验等领域中，成为纳米科学研究的基本工具。

在做原子力显微镜AFM测试时，科学指南针检测平台工作人员在与很多同学沟通中了解到，好多同学对AFM测试不太了解，针对此，科学指南针检测平台团队组织相关同事对网上海量知识进行整理，希望可以帮助到科研圈的伙伴们；

AFM可以对样品表面形态、纳米结构、链构象等方面进行研究，获得纳米颗粒尺寸，孔径，材料表面粗糙度，材料表面缺陷等信息，同时还能做表面结构形貌跟踪（随时间，温度等条件变化）。也可对样品的形貌进行丰富的三维模拟显示，使图像更适合于人的直观视觉。图1表征的是纳米颗粒的二维几何形貌图和三维高度形貌图。

图1 纳米颗粒的2D主形貌（a）和3D主形貌（b）

AFM的高度像可用于样品表面微区高分辨的粗糙度测量，应用合适的数据分析软件能得到测定区域内粗糙度各表征参数的统计结果，一般仪器供应商会提供配套的数据处理软件。表面粗糙度的定量常用美国机械工程协会的ASME B46.1粗糙度分析标准。表面平均粗糙度Ra，最大高度粗糙度Rmax和均方根粗糙度Rq等是常用的表征粗糙度的参数，其含义分别是：在所考察区域内相对中央平面测的高度偏差绝对值的算术平均值（Ra），在横截面轮廓曲线图中在轮廓长度范围内相对中心线最高点与最低点高度的差值（Rmax），Rq是指在取样长度内，轮廓偏离平均线的均方根值，它是对应于Ra的均方根参数。计算机根据高度数据能自动计算出轮廓算术平均偏差Ra，最大高度粗糙度Rmax和均方根粗糙度Rq。

本文所有内容文字、图片和音视频资料，版权均属科学指南针网站所有，任何媒体、网站或个人未经本网协议授权不得以链接、转贴、截图等任何方式转载。

来源：科学指南针

AFM成像表面形貌和表面粗糙度相关推荐

《炬丰科技-半导体工艺》湿法刻蚀硅片表面性能的变化
书籍:<炬丰科技-半导体工艺> 文章:湿法刻蚀硅片表面性能的变化编号:JFKJ-21-1341 作者:华林科纳本研究研究了湿法蚀刻下硅晶片back-side面的表面特性,测量分析表面形 ...
《炬丰科技-半导体工艺》旋转超声雾化液中新型处理GaAs表面湿法清
书籍:<炬丰科技-半导体工艺> 文章:非晶碳层的刻蚀特性研究编号:JFKJ-21-1649 作者:华林科纳引言提出了一种新的GaAs表面湿法清洗工艺.它的设计是为了技术的简单性和在G ...
《炬丰科技-半导体工艺》GaAs表面湿法清洗在旋转超声雾化溶液中的处理
书籍:<炬丰科技-半导体工艺> 文章:GaAs表面湿法清洗在旋转超声雾化溶液中的处理编号:JFKJ-21-749 作者:炬丰科技关键词:GaAs:清洁:超声波雾化摘要本文介绍了一种 ...
期末复习-氮化物半导体器件-半导体物理
文章目录基础知识 1半导体的接触 2半导体中载流子的产生 1 半导体中电子(载流子)的运动状态? 2 电子运动规律遵循量子力学的理论. 3 描述电子运动状态的工具是薛定谔方程. 4 晶体中电子的运动 ...
afm原子力分析软件_【干货】原子力显微镜（AFM）的使用和成像技巧
原子力显微镜(Atomic Force Microscope ,AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器.它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作 ...
afm原子力分析软件_安东帕Tosca系列原子力显微镜在聚合物表面上大显身手
人眼其实是一台像素高达5.76亿的"超级相机". 如果硬性比较,人眼大约等效于一台50毫米焦距,光圈F4-F32可变,400万像素--是的,只有400万像素,感光度ISO50-IS ...
AFM（弹性模量）—文献专项阅读
原子力显微镜(AFM)具备原子级的高分辨率.实时成像.可以直接研究表面局域性质等特点.它是一种跨越了光学显微镜和电子显微镜两类仪器工作范围的精密成像仪器,同时也是一种具有极高分辨率的表面性质测量仪器. ...
matlab处理afm图片,基于MATLAB的增大页岩AFM灰度图分辨率的方法与流程
本发明涉及岩石表面形貌探测技术领域: :,具体是基于matlab的增大页岩afm灰度图分辨率的方法. 背景技术: ::原子力显微镜(afm)可以对各种样品进行纳米量级的物理性质包括表面形貌进行探测, ...

AFM成像表面形貌和表面粗糙度

AFM成像表面形貌和表面粗糙度相关推荐

最新文章

热门文章