无源晶振电路设计可参考如图1所示的皮尔斯振荡器电路模型,设计人员只需给晶振Q配置合适的外围电路,即两个外部负载电容CL1、CL2和一个外部限流电阻RExt,晶振就能正常工作了。CS为杂散电容,存在板级之间。

图1:晶振外围电路设计图

下面笔者结合智能采集终端项目,针对EPSON公司两款无源晶振测试结果做分析,谈一谈如何正确地设计无源晶振硬件电路。

CPU主12M时钟选用Epson公司的12MHz无源晶振,型号为FA-20H-12.000MHz-12.0pF-30ppm。此款晶振指标如图2所示,其优势表现为:体积小、超宽存储温度范围、超宽工作稳定范围、低温度频差和低老化速度。

图2:FA-20H-12.000MHz-12.0pF-30ppm指标

12MHz时钟波形如图3所示,开始时间为2.65ms,幅值为3.21V,满足A公司CPU时钟产品的设计要求(开始时间小于10ms;高电平幅值为3.3V±5%)。但是频偏46.5ppm过大,如图4所示,频偏过大最严重结果可能导致系统的频率不准,所以需要调整频偏。

图3:12MHz时钟波形图

图4:12MHz时钟频谱图

参考晶体等效模型,图5中Co为并电容;Lm为等效电感,代表晶振的惯性;Cm为等效电容,代表晶振的弹性;Rm为等效电阻,代表晶振的损耗。

图5:无源晶振等效模型

实际频率和标称频率之间的关系:FP = FS×[1+Cm/2(CO+CL)]……①

FS是当晶振阻抗为0时的串联频率:FS = 1/[2π(Lm×Cm)1/2]……②

CL为晶振的负载电容:CL = (CL1×CL2)/( CL1+ CL2)+Cs ……③

根据公式①②③知:增大负载电容可减小实际频率FP;减小负载电容可增大实际频率FP。所以可以改变CL1和CL2,通过计算只要CL变化1pF,FP可以变化几百赫兹。原有电路使用的是两个20pF电容,则串联起来是10pF。参考器件库,发现稍微大于20pF的电容只有22pF,27pF和30pF。如果用两个22pF串联,频偏还是很大。而如果用两个27pF串联,则频偏偏小。试用不同容值27pF和22pF串联,则电容为12.1pF,测量得频偏落在了设计范围内。所以晶振电路上的两个电容可以不相等,通过微调电容值可以微调晶振的振荡频率。

计量模块36.768kHz时钟电路设计改进

采用Epson公司的32.768kHz无源晶振,型号为MC-146-32.768kHz-12.5pF-20ppm。此款晶振指标如图6所示,其优势表现为:超宽存储温度范围、超宽工作稳定范围、低调整频差、低温度频差和低老化速度。

图6:MC-146-32.768kHz-12.5pF-20ppm指标

32.768kHz时钟波形如下图所示,晶振波形的峰峰值VPP= (690-130)mV= 560mV。

图7:36.768kHz时钟波形图

根据皮尔斯振荡器电路模型知:

驱动等级DL = I2QRMS×ESR = (2πF×VRMS×Ctot)2×ESR......④

其中:IQRMS为流过晶振电流的均方根有效值,ESR为晶振等效电阻65k,F为晶振频率32.768k。

VRMS = VPP/23/2 ≈ 0.2VCtot = CL1+(CS/2)+Cprobe≈15.5pF,公式中CL1为10pF,CS取3pF,探头电容Cprobe一般取5pF。

根据公式④计算晶振的实际驱动级别大约为0.026uW,远小于指标要求的驱动级别0.1uW。驱动能力不足的话,晶振存在不起振的风险,此时可以通过改变负载电容或者增大峰峰值来提高驱动级别。

查看原理图发现:1)晶振外围电容为两个10pF串联,加上杂散电容,负载电容为8pF,达不到选型要求的12.5pF。后续先增大外接电容,改为两个18pF电容串联,测试发现负载电容增大4pF,峰峰值却略微降低。

2)晶振XOUT引脚(对应计量芯片的XIN引脚)上串联了一个1k电阻,串联电阻RExt作用是为了减小驱动晶体的功率,防止晶振驱动过强发生过驱动而进入泛音模式,但串联电阻过大会导致晶振峰峰值偏低,引起驱动能力不足。根据“当晶振上的功耗超过晶振制造商给定的值,RExt才是必需的,否则RExt的值应该为‘0’”的原则,MC-146-32.768kHz的最大驱动级别能达到0.5uW,所以去掉1k电阻测试发现峰峰值VPP增大约100mV。

根据公式④计算改进后电路的驱动级别约为0.085uW,接近于典型值0.1uW,满足设计需求。

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