动态阈值_芯片设计进阶之路——门级优化和多阈值电压

芯片设计进阶之路——门级优化和多阈值电压

低功耗深入理解（三）

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本文作者：烓围玮未。主要从事ISP/MIPI/SOC/车规芯片设计

首发于知乎专栏：芯片设计进阶之路

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在《芯片设计进阶之路——门控时钟》里面介绍了门控时钟。我们知道现在工具对门控时钟的支持已经十分成熟了，基本不需要我们设计上做任何改变，就能自动实现。

还有两种对设计影响小，而且比较成熟的低功耗技术是：

门级电路功耗优化
多阈值电压设计

这两种技术和门控时钟一样，已经被EDA工具支持的很好，基本不需要我们在设计上额外做任何工作，就能很好的实现。我们只需要了解他们的概念和基本原理就行了。

1 门级电路的功耗优化(Gate Level Power Optimization)

门级电路的功耗优化(Gate Level Power Optimization，简称GLPO)是从已经映射的门级网表开始，对设计进行功耗的优化以满足功耗的约束，同时设计保持其性能，即满足设计规则和时序的要求。功耗优化前的设计是已经映射到工艺库的电路，如下图所示：

门级电路的功耗优化包括了设计总功耗，动态功耗以及漏电功耗的优化。对设计做优化时，优化的优先次序如下：

从上到下，优先级逐渐降低。优化时，所产生的电路首先要满足设计规则的要求，然后满足延迟(时序)约束的要求，在满足时序性能要求的基础上，进行总功耗的优化，再进行动态功耗的优化和漏电功耗的优化，最后对面积进行优化。

　　优化时先满足更高级优先权的约束。进行低级优先权约束的优化不能以牺牲更高优先权的约束为代价。功耗的优化不能降低设计的时序。为了有效地进行功耗优化，需要设计中有正的时间冗余(timing slacks)。功耗的减少以时序路径的正时间冗余作为交换，即功耗优化时会减少时序路径上的正的时间冗余。因此，设计中正的时间冗余越多，就越有潜力降低功耗。

比如下面的例子：

在上图中，与门输出具有特别高的翻转率。因为它后面有一个NOR门，所以可以将两个门重新映射到一个AND-OR门加上一个反相器，这样高翻转的Net就变成了AND-OR内部的信号线了。现在就不需在AND门后接一个大电容来支持高翻转的输出，有效降低了动态功耗。

再看一个例子：

在上图中，左边多输入与门中，高翻转率的信号映射到了高功率输入引脚，低翻转信号映射到了低功率引脚。对于多输入门，不同引脚的输入电容可能差异很大——因此功率可能存在显著差异。通过重新映射，使高翻转信号映射到低功率输入端，可以降低动态功耗。

与时钟门控一样，门级功耗优化由EDA工具来实现，并且对于RTL设计人员是透明的。我们只需要了解这个概念，知道有这个优化就足够了。

2 多阈值电压设计(Multi-Threshold Logic)

多阈值电压指的是在工艺库中，同一种功能的门会有多种阈值电压的cell，这样在不同的逻辑里就能通过选择不同的阈值电压来降低静态功耗。

多阈值电压是用来降低静态功耗，也就是漏电功耗的。为什么多阈值电压技术可以降低漏电功耗呢？

这是基于下面两个结论：

1. 阈值电压VT越高，泄露功耗越小；

2. 阈值电压VT越高，门延时越大；

如下图所示：

一个更直观的图如下：(一个90nm库的数据)

可以看到，泄露功耗随着VT提高，呈指数级减少，有时LVT和HVT可以相差100倍。但是器件延时随VT增加却不是指数级的，但是还是VT越高，延时越大。

泄露功耗主要来源于亚阈值漏电流(Sub-threshold Leakage)引起的功耗(详细描述可以参考之前的文章)。一个比较好的计算公式如下：

W/L是晶体管的尺寸，Vth是热相关常量；Cox/Vth/W/L都是工艺相关，不可以调整。VGS就是VDD；

VT是阈值电压；可以看到，阈值电压越高，漏电功耗就越低。但是阈值电压越高，对应的翻转速度就会越慢，延时就会越大，性能就越差。

一般综合时，会先用HVT的cell去综合，然后在critical path上如果有timing不过，再用LVT去修。但是一般会限制LVT的数量，防止泄露功耗太大。因为亚阈值泄漏电流随温度呈指数增长(Vth)。即使在室温下的泄漏是可以接受的，在最坏的情况下，温度会超过芯片的设计目标。

后记

门控时钟，门级优化和多阈值电压技术已经是很常见，普遍使用的低功耗技术。现在工具和Flow已经能够很好的支持。但是作为设计人员，还是需要了解其基本原理，文中的描述已经足够大多数人的需求了。

技术很重要，技术背后的思想更重要！

技术背后的某些思想就是你解决以后问题的钥匙。希望对每个知识点都力求能深入理解，为你进阶打下坚实基础。

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参考资料：

https://blog.csdn.net/l471094842/article/details/103631401

Low Power Methodology Manual

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