哪里可以做TEM/HRTEM/EDS/线扫/Mapping测试、EBSD测试
广州化联质检●实验仪器:场发射透射电镜(TEM测试)
形貌观察（磁性、非磁样品、生物样均可)选区电子衍射(环衍射、点衍射)
高分辨像（磁性、非磁样品、生物样均可)EDS能谱（点扫、线扫、面扫)
明场、暗场
Mapping
球差电镜
型号：
lecnai G2 F30/F20JEOL-2100F
FIB+球差校正电镜
应用范围
可以对各种材料的物质内部微结构进行观察，电子衍射分析及高分辨电子显微术研究，材料粒径统计，晶体结构及晶体性能进行研究，配合能谱仪可以对各种元素进行定性、及半定量的微区分析，广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、环境、光电子等领域。
仪器名称: 高分辨透射电镜测试(300kv TEM)
仪器型号: Tecnai G2 F30
仪器厂家: FEI
仪器产地: 美国
Tecnai G2 F30 是一台真正多功能、多用户环境的场发射透射电子显微镜。该仪器将各种透射电镜技术（包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS频谱成像等）进行方便灵活地有机组合，形成了强大的分析功能，从而在同类型仪器中独占鳌头。除具有200KV的各种优点外，Tecnai G2 F30提供了300KV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。同时，该仪器使用户可以在原子尺寸的分辨率下进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。
主要规格及技术指标：
1) 加速电压： 200 kV～300 kV
2) 点分辨率：0.20 nm
3) 线分辨率：0.102 nm
4) 信息限度：0.14 nm
5) TEM放大倍数范围 60 Χ -1000kx
6) 相机长度（mm）80 - 4，500
7) 最大衍射角度 ±12
8) STEM HAADF分辨率：0.19 nm
9) STEM放大倍数范围：150 Χ -230Mx
10) 能谱分辨率：≤ 136 eV
11) 能量过滤器分辨率：≤ 0.9 eV
常见问题
问TEM制样方法分类？
粉末样品：直接用分散剂超声分散滴在载网上进行观察；或进行树脂包埋，超薄切片后，转移铜网上进行制样；
复型技术：常用复型材料为非晶碳膜和各种塑料薄膜，对样品没有损坏；
化学减薄/双喷减薄：对于大部分金属样品，可以进行化学减薄或双喷减薄；
离子减薄：对于陶瓷或金属合金合物，无法电解腐蚀，只能用离子减薄；
聚焦离子束FIB：与电解双喷和离子减薄相比，可通过SEM在线观察下进行定点制样，获得更高质量的TEM样品；
问TEM制样时载网的分类，如何选择？
载网由金属网、支持膜和导电膜组成。
金属裸网材质有铜、镍、钼、金、铝等；铜网较为常见，如果能谱分析铜元素时，则应该选择其他材质载网；
支持膜包括：1）方华膜（聚乙烯醇缩甲醛）：纯有机膜，导电性差，电子束下不耐高温或发生电荷积累而产生样品漂移，多用于低电压电镜或生物样品；2）碳支持膜：方华膜和碳膜组成，最为常用，碳膜的存在增加了导热和导电性，但由于碳颗粒本身的衬度问题，在观察样品高分辨形貌时则不合适；3）微栅膜：在碳支持膜上制作些微孔，解决了高分辨观察样品时的背底衬度问题；4）超薄碳膜：使用微栅膜时，棒状或片材可搭载在孔边缘，但纳米级颗粒由于尺寸小于微栅孔，无法搭载，但是碳支持膜衬度又差，在微栅膜上再增加一层超薄碳膜，可使纳米颗粒负载在超薄碳膜上的同时也提高了图像衬度；5）纯碳膜：部分分散剂（氯仿等）会溶解方华膜，则可去除方华膜，即为纯碳膜；
问磁性样品都有什么？
1.含铁（Fe）、钴（Co）、镍（Ni）、钆（Gd）等铁磁性元素的氧化物、金属、尖晶石等；
2.钕铁硼（NdFeB）/钐钴（SmCo）等稀土永磁材料；
3.钐（Sm）、镨（Pr）、钕（Nd）、镝（Dy）、铽（Tb）等稀土元素的磁性助剂。
样品要求：
1.粉体需5mg左右，需要是纳米级颗粒，粒径较大的可提前研磨寄送；液体1ml以上，如是分散的液体，尽量浓度稍大一些，测试老师可以根据实际情况稀释拍摄；（浓度有特殊要求请备注）；量子点样品下单前请联系技术顾问，量子点样品拍摄因素较多，无法保证能达到预期，请知悉！
2. 特别注意：正常测试电压：200kv；常规用普通碳膜制样，超小颗粒使用超薄碳膜；拍能谱且样品中含铜时，可选择镍网微栅或钼网微栅；
3. 若样品有磁性（含铁/钴/镍/锰元素），务必备注清楚；若隐瞒样品实际信息，导致设备损坏，需承担全部赔偿责任；由于形貌类测试的特殊性，请尽量提供相关参考图片或文字说明；测试过程中老师会根据要求和样品实际情况尽力拍摄，但无法保证一定拍到理想形貌，敬请理解；
结果展示：
广州化联质检测试项目表：
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