芯片测试的DC/AC/Fast/slow模式
目录
1.AC/DC介绍及区别
2.DC/AC mode
(a).DC mode
(b).AC mode
1.AC/DC介绍及区别
70年代到1995年这段时间里，由于芯片的工作频率很低只有20-100M，scan测试只有DC SCAN，我们就能捕捉到所有std-logic的制造缺陷。但是1995年以后，测试科学家和工程师发现通过DC SCAN测试没有缺陷的芯片在高工作频率下使用会有问题。其根本原因是随着制造工艺向深亚微米迈进，芯片的工作频率也提高到200M-1G，原来的SCAN测试方法和模型不再能捕捉到所有的std-logic的制造缺陷。
下表给出了AC/DC测试的一些区别：
上面一段介绍摘自：
一文读懂DC/AC SCAN测试技术 - AC-DC/DC-DC转换 - 电子发烧友网一文读懂DC/AC SCAN测试技术-1 读入没有插入scan的网表2 使用Design compiler 插入scan chain和OCC （on chipclocking）模块，同时插入mux， fix DRC3 使用Testcompress 实现EDT压缩scan chain4 使用Testcompress 产生测试DC/ACpattern，同时产生测试验证的Testbenchhttp://www.elecfans.com/dianyuan/570646.html
2.DC/AC mode
DC/AC的划分是根据输入激励的相对快慢来确定的。
DC (static)testing：测试激励比正常工作要慢很多的时钟(不仅仅包含stuck-at scan test)
AC testing (At-speed testing)：测试激励使用正常时钟(不仅仅包含At-speed scan test)
DC/AC分类来自Digital systems testing and testable design ---Miron Abramovici
我们所说的DC testing 就是static testing或slow testing即慢速测试，测试频率是10M-30M ,在SCAN测试方法中就是DC scan test或normal scan test。
AC testing也就是at-speed testing (可能有称为fast test)即实速测试，测试频率与芯片真实工作频率是一样的。在scan测试中就是AC scan test或at-speed scan test。
(a).DC scan
低速DC scan对Stuck-at缺陷有很好的覆盖率，所以也有称呼为stuck-at mode，主要检查我们平时常见的stuck-at 0/1错误。比如下图中的 inverter A端如果被接到了VSS端的话，就是一个stuck at 1的fault。
(b).AC scan
AC scan也被称为At-speed scan Test（ASST），是一种高速测试模式，主要测试芯片中的延迟故障，也就是transition。随着半导体制造工艺的不断发展，片上器件的几何尺寸越来越小。此时，由于制造工艺异常，材料纯度不够，环境杂质等因素影响所造成的随机缺陷，导致电路中某些信号transition time变长，如果这种变化造成关键路径上的延迟不满足最大延迟要求，那么整个电路就不能工作在正常频率下。我们称这种故障为延迟故障。如下图的inverter，如果它下降的transition time延迟，就会导致它整个propagation delay超出理想限定的范围。
现在高性能超大规模的芯片的故障也越来越多地表现为延迟故障，而不是传统的stuck-at 故障。因此这个ASST模式也是很重要的，通常会单独作为一个模式定义在mcmm环境中。
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