第二章 常用半导体器件原理
目录
2.1半导体物理基础
1.本征半导体
2.本征激发
3.复合
4.N型半导体和P型半导体
5.半导体电流由漂移电流与扩散电流组成。
2.2PN结
PN结的击穿特性
PN结电容
2.3晶体二极管
1.二极管的结构与分类
二极管的分类
2.二极管的伏安特性
3.二极管的电阻
4.二极管的近似伏安特性和简化电路模型
5.稳压二极管
2.4双极型晶体管
1.晶体管的结构
2.晶体管的电流放大作用
3.晶体管的伏安特性
2.5场效应管
1.结型场效应管(JFET)
2.绝缘栅场效应管(MOSFET)
2.6晶体管和场效应管的低频交流小信号简化模型
1.晶体管的低频交流小信号模型
2.场效应管的低频交流小信号模型
2.1半导体物理基础
1.本征半导体
- 纯净的单晶半导体。
2.本征激发
- 吸收外界能量,本征半导体中一部分价电子脱离共价键舒服成为自由电子留下空穴。
3.复合
- 自由电子填入空穴释放能量,消失一对载流子。
4.N型半导体和P型半导体
- 在本征半导体中掺入五价元素的原子形成N型半导体。
- 在本征半导体中掺杂三价元素的原子形成P型半导体。
5.半导体电流由漂移电流与扩散电流组成。
- 漂移电流:在电场的作用下,自由电子逆着电场方向漂移,空穴顺着电场方向飘移。
- 扩散电流:载流子由于浓度差从高浓度区向低浓度区扩散。
2.2PN结
- 正向偏置:使P区的电位高于N区的电位。耗尽区变窄
- 正向偏置导通,反向偏置阻断。
PN结的击穿特性
- 轻掺杂:雪崩击穿。
- 重掺杂:齐纳击穿
PN结电容
- 势垒电容、扩散电容
2.3晶体二极管
1.二极管的结构与分类
- 半导体二极管是由一个PN结加上管壳封装与相应的电极引线组成,P区引出的电极为阳极,N侧为阴极
二极管的分类
- 按材料不同,二极管可分为硅管和锗管;
- 按用途不同,可分为普通二极管、整流二极管、稳压二极管等;
- 按结构不同,可分为点接触型、面接触型和平面型。
- 点接触:适用于高频电路和小功率整流或开关元件
- 面接触:适用于低频整流
- 平面行:适用于脉冲数字电路做开关管
2.二极管的伏安特性
- 伏安特性方程
- Is为反向饱和电流,UT≈26mV
- U(on):硅管≈0.6~0.7V,锗管=0.2~0.3V
- 对温度敏感:温度升高,正向特性曲线左移,反向特性曲线下移。
- 伏安特性方程
3.二极管的电阻
- 直流电阻:直流电压➗直流电流
- 交流电阻:
4.二极管的近似伏安特性和简化电路模型
- (a)理想二极管(b)交流电阻为0(c)一般二极管
- (a)理想二极管(b)交流电阻为0(c)一般二极管
5.稳压二极管
- 稳压二极管在击穿状态下工作。
- 工作电流Iz可以在较大范围内调节而稳压电压Uz几乎不变
- 最大功率Pm:超过此功率稳压管烧坏
2.4双极型晶体管
1.晶体管的结构
- 是由两个PN结组成的元器件,分为PNP和NPN两种类型,它的三端分别称为发射极e、基极b和集电极c。
2.晶体管的电流放大作用
- α为共基极交流电流放大倍数,β为共发射极交流放大倍数
- α为共基极交流电流放大倍数,β为共发射极交流放大倍数
3.晶体管的伏安特性
- 输出特性:(NPN)
- 截止区:发射结电压小于开启电压且集电结反向偏置
- 放大区:发射结正向偏置且集电结反向偏置
- 饱和区:发射结与集电结均为正向偏置
- 输出特性:(NPN)
2.5场效应管
1.结型场效应管(JFET)
- 漏极D、栅极G、源极S
- 输出特性曲线(N沟道):栅-源极电压为常量时,漏极电流与漏-源电压之间的函数关系。
- 恒流区:|u(GS)|<|UGS(off)|,|u(DG)|>|UGS(off)|
- 可变电阻区:|u(GS)|<|UGS(off)|,|u(DG)|<|UGS(off)|
- 截止区:|u(GS)|>|UGS(off)|
- 转移特性曲线:漏-源电压为常量时,漏极电流与栅-源电压之间的函数关系。
IDSS为UGS=0时产生预夹断时的ID,称为饱和漏极电流
2.绝缘栅场效应管(MOSFET)
- 输出特性曲线(增强型)
- 恒流区:|u(GS)|>|UGS(th)(开启电压)|,|u(DG)|<|UGS(th)|
- 可变电阻区:|u(GS)|>|UGS(th)|,|u(DG)|>|UGS(th)|
- 截止区:|u(GS)|<|UGS(th)|
- 转移特性曲线
- 低频跨导:
- 输出特性曲线(增强型)
2.6晶体管和场效应管的低频交流小信号简化模型
1.晶体管的低频交流小信号模型
UA为厄尔利电压,还需考虑rbb‘
2.场效应管的低频交流小信号模型
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