客户成功案例 | 从半导体到终端产品：恩智浦（NXP），利用数据驱动“移动”未来

未来 10 年，汽车和卡车的发展速度将比过去的 100 年更快、更彻底。随着汽车行业朝着可替代能源方向的发展、扩展连接并转为自动驾驶的趋势，这对汽车的硬件和软件的多样性及功能提出了更高的要求。而这些技术发展的核心正是计算机芯片及半导体。

恩智浦是世界领先的嵌入式应用（如互联汽车）连接技术解决方案提供商，拥有 60 年的高科技制造经验和专业知识，总部位于荷兰埃因霍温，拥有 31000 名员工，为 30 多个国家的客户服务，年收入达 95 亿美元。公司专注于半导体在汽车、工业和物联网 (IoT) 三个主要领域的应用。恩智浦在汽车半导体和微控制器、车载网络和娱乐、安全车辆接入和汽车安全功能（如安全气囊和雷达）等领域拥有领先的市场地位。

“电子产品对汽车越来越重要，”Corinne Bergès 博士说道，她负责恩智浦高级汽车模拟部门的风险评估、统计分析和安全分析，并管理整个欧洲、中东和非洲的六西格玛培训和根本原因问题解决方案 (RCPS) 培训。“现在不可能想象一辆没有半导体的汽车。”

但如果想继续领导这个行业，恩智浦设计和制造半导体解决方案的速度必须更快，效率和精度必须更高。为实现这一目标，公司必须不断改进其制造和测试过程。

我们拥有的数据越多，能够提取的信息就越多。最关键的是关注任何制造过程中固有的正常变异性，从而开展分布分析并寻找异常值……对于这些复杂的测试，我们需要最新的方法和统计数据。
—— Corinne Bergès 博士Corinne Bergès 博士

以数据驱动为核心

数据是半导体设计和制造的核心。对于恩智浦及其合作伙伴来说，制造周期的每个方面及该过程的持续改进都是数据驱动的。充裕的数据代表着机遇与挑战并存。Bergès 说道：“我们拥有的数据越多，数据的关联性就越强，可从这些数据中提取的信息也越多。”

Bergès 说，挑战在于有效管理数据量，尤其是在测试阶段。芯片制造商通过各种参数和环境条件测试他们的解决方案，从而确定设备可能失效的临界点，或控制过程的变异性。这个过程会产生大量的数据点。

如果我们没有合适的工具来处理数据，那么这些数据就会毫无价值，因此，我们需要使用最新和最具创意的方法来管理这些数据。JMP Pro
使用了最具创意、最有效的方法，这非常重要。
—— Corinne Bergès 博士

JMP Pro 非常有助于开展数据可视化和数据分析工作。“数据可视化对产品工程师来说非常重要。”Bergès 说道。因为图形比单独的数据行更易于读取和理解，工程师能够快速发现异常值、相关性或任何问题。她说，JMP 的交互式可视化功能所做的工作远不止这些；它们帮助恩智浦工程师和操作员们提高了从单变量分析到多元分析的能力。

“过去我们在可视化和单变量分析中进行过很多测试，但是我们每次只研究一个测试，”Bergès 解释说，“现在，不再可能只进行一次测试了。”相反，公司必须将多变量实验的数据关联起来。“这种分析需要先进的统计数据和方法，”而JMP Pro 则拥有这些功能，满足了分析需求。

Bergès 认为 JMP Pro 最具价值的用途之一是实验设计。在本例中，她使用软件突出显示了恩智浦阀门驱动组件模型中的重要参数，并对各因素之间的交互作用进行了可视化处理。最终， Bergès 能够进行良率预测。

针对特定客户要求的 4000 小时试验，恩智浦六西格玛实践者们还使用 JMP Pro 的退化分析功能对通过一个典型的 2000 小时测试获得的高温工作寿命（HTOL）试验结果（汽车行业标准）进行建模和预测。

“过去我们在可视化分析和单变量分析中进行了很多测试，但每次只研究一个测试。现在，已经不可能只进行一次测试了，”Bergès说道。这就是 JMP Pro 的优势所在：它在多元变量实验建模中是必不可少。

掌控"corner lots"市场

JMP 软件不但能够帮助大量的用户开展数据分析，而且 JMP Pro 还为科学家和工程师们增加了预测建模、交叉验证等高级功能。恩智浦使用 JMP Pro 的一个重要实践是研究汽车半导体 “corner lots” 制造工艺的变异。

在芯片制造中，“corner lots” 是一种实验设计 (DOE) 技术，用于测试极端制造参数。为了验证电路设计的质量，芯片制造商会将工艺参数设置为极值，然后制造出一 “corner lots” 或多组半导体晶片。

他们在不同的环境条件（如电压和温度）下测试由这些晶片制作的设备，以确定其工作极限。当恩智浦开发一种新的半导体时，会使用 corner lots 方法对制造过程中可能遇到的变异性进行综合分析。这使公司能够识别并纠正生产过程中的任何技术缺陷。

“对于汽车阀门驱动部件，传统的 corner lots 方法会使用许多工程批次，多达 75 个或更多，对每个参数都单独进行评估”，Bergès 指出。“它的局限性在于它没有评估参数之间的交互作用。” JMP Pro 允许评估单个批次来评估实际的角落点。结果，恩智浦能够控制类别探针参数的离散度。这种全新的统计方法还能够进行良率建模和预测。

Bergès 使用 JMP Pro 的 “以X拟合寿命”平台进行不同温度下的高功率可靠性评估(HPRA) 对比测试。