Lake Shore 8400 系列霍尔效应测试系统
Lake Shore 8400 系列可与直流和交流场霍尔测量方法一起使用，以促进最广泛的研究应用。该系统包括完全集成的仪器、磁铁和电源，以及可显着帮助您提高研究效率并提供值得信赖的结果的软件。
当与 AC 场测量选项一起使用时，该系统非常适合与迁移率通常低于 1 cm 2 /V s 的新兴材料类别一起使用——这些材料类型的电子特性很难或不可能用传统 DC 测量场霍尔方法。其中包括许多当代半导体和电子材料，例如光伏（太阳能电池）和热电材料、新显示技术和有机电子产品。
标准系统能够进行直流场测量，电阻范围为 0.5 mΩ 至 10 MΩ。测量霍尔电压、霍尔系数、霍尔迁移率和电阻率。添加选项后，该系统允许您在直流场中测量低至 0.5 µΩ 和高达 200 GΩ 的电阻。您还可以确定载流子密度和载流子迁移率与温度的关系。
对于与温度相关的应用，8400 系列选件使您能够使用闭式循环冰箱和高温烘箱测量 15 K 至 1273 K 的样品，或使用可选的单点 LN 2主体进行专门的 77 K 测量。
8400 系列霍尔效应测试系统 提供了一个强大的平台，可以对其进行配置以满足您的特定需求，并支持随着您材料测量需求的发展而添加新功能。包括可变温度组件、高电阻和低电阻以及光学访问在内的各种选项拓宽了您的测量机会并简化了实验过程。
8400 系列的特点
适用于可变温度测量和从 1 到 10 6 cm 2 /V s 的迁移率
可选的交流场将迁移率测量范围扩展至 10 -3 cm 2 /V s
最大直流磁场为 1.67 T (8404) 和 2.25 T (8407)
1.18 T (8404) 和 1.31 T (8407) 的可选 AC 场
标准电阻范围为 0.5 mΩ 至 10 MΩ
高电阻选项将范围扩大到 200 GΩ
低电阻选项显着降低电阻本底噪声
温度从 15 K 到 1273 K
也可作为CRX-VF 低温探针台的选件提供
2 in 极帽不推荐用于 8407 中的可变温度
*现场规格假设高均匀性选项与可变温度一起使用，以获得 2:1 的极帽面与气隙比，这对于在大间隙下运行是优选的。规格可能会发生变化。
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